測試晶體振蕩器的(如何使用示波器測試晶振?)
1.如何使用示波器測試晶振?
晶振包括無(wú)源晶振和有源晶振，通過(guò)示波器可以測量出晶振的起振波形，下面介紹測量晶振波形的方法。
1。無(wú)源晶振用示波器測量波形無(wú)源晶振在起振時(shí)兩個(gè)引腳都會(huì )有震蕩波形產(chǎn)生，用示波器探頭的負極接GND，正極接任何一個(gè)晶振引腳即可看到晶振的波形。
一般情況下，無(wú)源晶振起振的波形為正弦波，通過(guò)示波器可以看到正弦波形，測量其頻率應和晶振的起振頻率一致。 有源晶振用示波器測量波形一般情況下，有源晶振有四個(gè)引腳，兩個(gè)供電引腳，一個(gè)輸出引腳，另一個(gè)引腳懸空或者接GND。
在測量時(shí)需要將示波器探頭的正極接輸出引腳，負極接GND。有源晶振輸出的波形有兩種：正弦波和方波。
這個(gè)主要看晶振是否集成了整形電路，如果內部有整形電路則輸出方波，否則輸出正弦波。 測量時(shí)的注意事項在測量晶振波形時(shí)，一定要注意兩個(gè)事情：1）示波器的帶寬；2）負載電容。
示波器的帶寬一定要高于晶振的起振頻率，至少5倍，否則所測量的波形存在失真。晶振對負載電容比較敏感，所以測量時(shí)要盡量減少輸入電容對測量的影響。
以上就是這個(gè)問(wèn)題的回答，感謝留言、評論、轉發(fā)。 更多精彩內容請關(guān)注本頭條號：玩轉嵌入式。
感謝大家。 。
2.檢測晶振需要用到什么
一般情況下晶振兩電極間的阻值為無(wú)窮大。
首先：將萬(wàn)用表?yè)茉赗*10k擋，兩表筆分別與晶振兩電極相碰，然后觀(guān)察表頭指示，指針應在無(wú)窮大處不動(dòng)；但是如果指針在無(wú)窮大處有輕微擺動(dòng)，就說(shuō)明石英晶體片有漏電現象或者是電極觸片與晶體片接觸不良，因為接觸不良就相當于電極觸片在晶體片上劃動(dòng)，就會(huì )產(chǎn)生電流，所以指針會(huì )發(fā)生輕微擺動(dòng)；如果指針有偏轉，就說(shuō)明晶體嚴重漏電；如果指針指到零位，說(shuō)明晶體已擊穿損壞。另外測試時(shí)請注意：最好不要進(jìn)行在路測試，應取下或焊脫一只腳后再進(jìn)行測試，否則誤差會(huì )很大，不易判斷。
3.如何校準 trimble 晶振的頻率
晶振分為無(wú)源晶振和有源晶振。有源晶振稱(chēng)為石英晶體振蕩器，可以直接接上電源，用頻率計測量頻率及用示波器測量幅度。
無(wú)源晶振稱(chēng)為石英晶體諧振器，其參數很多。較簡(jiǎn)易的方法，可以搭載一個(gè)振蕩電路，用頻率計測量頻率，并替代電阻法，等效得出晶振諧振電阻。并用電容表直接測量晶振靜態(tài)電容。但由于振蕩槽路不平衡，較難測出準確數值。
用阻抗計測量。可以較容易測量到Fs、Rr、C0、FL、Ts、CL等參數值，并可通過(guò)計算得出其它相關(guān)參數。缺點(diǎn)阻抗計一般數度有限，頻率值一般誤差在5ppm左右，其支架電感的嚴重影響，使串聯(lián)諧振頻率相位移較大，同時(shí)又干擾正確測量負載諧振頻率。另外，其測量有一定的局限性，只能測量質(zhì)量因數大于60以上的晶振，也不能進(jìn)行功率掃描和寄生掃描。
網(wǎng)絡(luò )分析儀測量。分為專(zhuān)用和通用兩種。專(zhuān)用網(wǎng)絡(luò )分析儀設置簡(jiǎn)單，可以進(jìn)行全部晶振參數的測量，但不能它用。通用的網(wǎng)絡(luò )分析儀，設置較為繁雜，測量參數有限，但可以通過(guò)計算獲得。
相關(guān)測量方法及標準如下：
SJ/T 10638-1995 《石英晶體振蕩器測試方法》
GB 12274-1990 《石英晶體振蕩器總規范》
GB/T 12274.1-2012 《有質(zhì)量評定的石英晶體振蕩器 第1部分：總規范》
IEC 444 1973. Basic method forthe measurementof resonance frequency and equivalent series resis-tance of quartz crystal uNIts by zero phase technique in aπ-network [S].
GB/T 12273-1996石英晶體元件 電子元器件質(zhì)量評定體系規范 第1部分：總規范
SJ/T 11210-1999
石英晶體元件參數的測量 第4部分：頻率達30MHz石英晶體元件負載諧振頻率fL和負載諧振電阻RL的測量方法及其他導出參數的計算
