斷層形成時代的確定方法(如何判斷褶皺和斷層的形成時代)
1.如何判斷褶皺和斷層的形成時代
斷層：斷層與節(jié)理同屬斷裂構(gòu)造，而斷層往往是節(jié)理的進一步發(fā)育所致。
或者說，當(dāng)節(jié)理發(fā)生位移，兩壁有所錯動時，即稱為斷層。 斷層是野外常見的一種重要地質(zhì)現(xiàn)象。
地質(zhì)旅行時遇到斷層，應(yīng)如何研究呢？首先要確定斷層的幾何要素，其內(nèi)容包 括下列各點：①斷層面。所謂斷層面，就是兩部分巖塊沿著滑動方向所產(chǎn)生的破裂 面。
斷層面的空間位置也像地層的層面一樣，是由其走向和傾向而確定的。但斷層 面并非一個平整的面，往往是一個曲面，特別是向地下沿伸的那一部分，產(chǎn)狀可以 有較大的變化。
此外，斷層面不是單獨存在的，往往是有好幾個平行地排列著，構(gòu) 成所謂斷層帶，又由于斷層帶上兩壁巖層的位移錯動，使巖石發(fā)生破碎，因此又稱 為斷層破碎帶。其寬度達幾米、甚至幾十米。
一般情況下，斷層的規(guī)模愈大，斷層 帶的寬度也愈大。 ②斷盤。
斷層面兩側(cè)相對移動的巖塊稱為斷盤。由于斷層面兩壁發(fā)生相對移動， 所以斷盤就有上升盤和下降盤之分。
在野外識別時，按其位于斷層面之上者稱上盤 ；位于斷層面之下者稱下盤。當(dāng)斷層面垂直時，就無上盤或下盤之分。
③斷層線。斷層面與地面相交之線，稱斷層線。
④位移。這是斷層面兩側(cè)巖塊相對移動的泛稱。
在野外觀察斷層時，位移的方 向是必須當(dāng)場解決的問題之一。特別遇到開礦時，一旦遇到礦脈（或礦層）中斷， 往往是斷層位移所致，需要立即追查。
追查的辦法是運用兩側(cè)巖層的層序關(guān)系來判 斷或撫摸斷層面上的擦痕等來確定。 在地質(zhì)旅行時，如何注意斷層？怎樣研究斷層？觀察什么內(nèi)容？此類問題必須 熟練掌握，現(xiàn)分述如下：先討論斷層的標志及兩盤相對位移問題。
①構(gòu)造（線）不連續(xù)。各種地質(zhì)體，諸如地層、礦層、礦脈、侵入體與圍巖的 接觸界線等都有一定的形狀和分布方向。
一旦斷層發(fā)生，它們就會突然中斷、錯開， 即造成構(gòu)造（線）的不連續(xù)現(xiàn)象，這是判斷斷層現(xiàn)象的直接標志。 ②地層的重復(fù)或缺失。
這是很重要的斷層證據(jù)。雖然褶皺構(gòu)造也有地層的重復(fù) 現(xiàn)象，但它是對稱性的重復(fù)；而斷層的地層重復(fù)卻是單向性的。
至于地層的缺失， 凡沉積間斷或不整合構(gòu)造也可造成，但這兩類地層缺失都是區(qū)域性的，而斷層造成 的地層缺失則是局部性的。關(guān)鍵的問題，旅行者應(yīng)對區(qū)域內(nèi)的地層系統(tǒng)及其分布情 況有一個較為全面的了解（可以在旅行準備時查閱地層表、剖面、地層柱狀圖之類）。
利用地層的重復(fù)或缺失不僅是判斷斷層的重要手段，而且是判斷斷層兩盤相對 動向的重要方法，借此還可以確定斷層的性質(zhì)——正斷層，還是逆斷層？基本上有六種情況，如圖所示。 ③斷層面（帶）上的構(gòu)造特征。
這是識別斷層的直觀證據(jù)，即在眼前“方寸” 之地內(nèi)所能見到的若干構(gòu)造現(xiàn)象，最常見的有以下幾種：斷層擦痕：就是斷層兩側(cè) 巖塊相互滑動和磨擦?xí)r留下的痕跡，由一系列彼此平行而且較為均勻的細密線條組 成，或為一系列相間排列的擦脊與擦槽構(gòu)成。在堅脆巖石的斷層擦痕的表面，往往 平滑明亮，發(fā)光如鏡。
并常覆以炭質(zhì)、硅質(zhì)、鐵質(zhì)或碳酸鹽質(zhì)的薄膜。有時，也在 斷層的擦面上見到不規(guī)則的階梯狀斷口，其上覆以纖維狀的礦物（如方解石之類） 晶體。
斷層擦痕對于決定兩盤位移方向頗有用處，如用手撫摸時，感到光滑的方向乃 是對盤活動位移的方向?；蜃源侄?，自深而淺的方向乃示對盤活動位移的方向。
或者利用階梯狀斷口，階梯形陡坡之傾向指示對盤相對滑動的動向。 構(gòu)造巖：當(dāng)斷層兩壁相對移動之時，巖石發(fā)生破碎，在強大的壓力下，礦物出 現(xiàn)定向排列，并有重結(jié)晶作用。
也就是說，由于動力作用而發(fā)生變質(zhì)，形成一系列 新的巖石，即稱為構(gòu)造巖。 構(gòu)造巖的種類很多，如構(gòu)造角礫石（角礫形狀不規(guī)則，大小不一）。
碎裂巖 （破碎的程度比前者更高，主要是原巖中的礦物顆粒的破碎，常見于逆斷層或平移 斷層的斷裂帶中）。糜棱巖（破碎極細，用顯微鏡觀察）。
更進一步的破碎即片理 化巖（具有片狀構(gòu)造的構(gòu)造巖）。 此外，還有牽引構(gòu)造：是斷層帶中的一種伴生構(gòu)造，它是由于斷層兩壁發(fā)生位 移時使地層造成弧形的彎曲現(xiàn)象，可以指示斷層的位移方向，如圖所示。
與斷層帶有關(guān)的，還有一種斷層的伴生構(gòu)造，主要是斷層旁側(cè)的節(jié)理及拖曳褶 皺。這些節(jié)理常與斷層斜交，其銳角所指的方向指示本盤滑動的動向。
其他標志，主要是指地貌或水文上的一些特征，不過，此種地質(zhì)現(xiàn)象只能說明 有斷層存在，不易說明其兩盤的運動方向，諸如三角面山，河流的突然改向，山脊 的突然中斷，眾多的溫泉或泉水的定向分布，小型的火成巖體的入侵及其伴生的變 質(zhì)作用、礦化現(xiàn)象及礦脈的定向分布等等均示斷層的存在，特別是從較大的地貌現(xiàn) 象所反映的斷層特征，有時在航空照片甚至衛(wèi)星照片上都能看到。 認識斷層的證據(jù)、判斷斷層的存在以后，就可以進一步將斷層進行分類，這也 是野外觀察斷層時必須解決的問題。
一般最常用的斷層分類法，是根據(jù)兩盤巖塊相對移動的性質(zhì)而定，分為三種： 正斷層、逆斷層和平移斷層。如果斷層面的傾角小于30°，則又稱為逆 掩斷層。
若規(guī)模很大的逆斷層（推移數(shù)千米以至數(shù)十千米者），又稱為推覆體。這 是“地槽區(qū)”常見的一種。
2.斷層發(fā)生年代先后的確定
1、標準化石2相鄰地層的年齡3同位素法 斷層：斷層與節(jié)理同屬斷裂構(gòu)造，而斷層往往是節(jié)理的進一步發(fā)育所致。
或者說，當(dāng)節(jié)理發(fā)生位移，兩壁有所錯動時，即稱為斷層。 斷層是野外常見的一種重要地質(zhì)現(xiàn)象。
地質(zhì)旅行時遇到斷層，應(yīng)如何研究呢？首先要確定斷層的幾何要素，其內(nèi)容包 括下列各點：①斷層面。所謂斷層面，就是兩部分巖塊沿著滑動方向所產(chǎn)生的破裂 面。
斷層面的空間位置也像地層的層面一樣，是由其走向和傾向而確定的。但斷層 面并非一個平整的面，往往是一個曲面，特別是向地下沿伸的那一部分，產(chǎn)狀可以 有較大的變化。
此外，斷層面不是單獨存在的，往往是有好幾個平行地排列著，構(gòu) 成所謂斷層帶，又由于斷層帶上兩壁巖層的位移錯動，使巖石發(fā)生破碎，因此又稱 為斷層破碎帶。其寬度達幾米、甚至幾十米。
一般情況下，斷層的規(guī)模愈大，斷層 帶的寬度也愈大。 ②斷盤。
斷層面兩側(cè)相對移動的巖塊稱為斷盤。由于斷層面兩壁發(fā)生相對移動， 所以斷盤就有上升盤和下降盤之分。
在野外識別時，按其位于斷層面之上者稱上盤 ；位于斷層面之下者稱下盤。當(dāng)斷層面垂直時，就無上盤或下盤之分。
③斷層線。斷層面與地面相交之線，稱斷層線。
④位移。這是斷層面兩側(cè)巖塊相對移動的泛稱。
在野外觀察斷層時，位移的方 向是必須當(dāng)場解決的問題之一。特別遇到開礦時，一旦遇到礦脈（或礦層）中斷， 往往是斷層位移所致，需要立即追查。
追查的辦法是運用兩側(cè)巖層的層序關(guān)系來判 斷或撫摸斷層面上的擦痕等來確定。 在地質(zhì)旅行時，如何注意斷層？怎樣研究斷層？觀察什么內(nèi)容？此類問題必須 熟練掌握，現(xiàn)分述如下：先討論斷層的標志及兩盤相對位移問題。
①構(gòu)造（線）不連續(xù)。各種地質(zhì)體，諸如地層、礦層、礦脈、侵入體與圍巖的 接觸界線等都有一定的形狀和分布方向。
一旦斷層發(fā)生，它們就會突然中斷、錯開， 即造成構(gòu)造（線）的不連續(xù)現(xiàn)象，這是判斷斷層現(xiàn)象的直接標志。 ②地層的重復(fù)或缺失。
這是很重要的斷層證據(jù)。雖然褶皺構(gòu)造也有地層的重復(fù) 現(xiàn)象，但它是對稱性的重復(fù)；而斷層的地層重復(fù)卻是單向性的。
至于地層的缺失， 凡沉積間斷或不整合構(gòu)造也可造成，但這兩類地層缺失都是區(qū)域性的，而斷層造成 的地層缺失則是局部性的。關(guān)鍵的問題，旅行者應(yīng)對區(qū)域內(nèi)的地層系統(tǒng)及其分布情 況有一個較為全面的了解（可以在旅行準備時查閱地層表、剖面、地層柱狀圖之類）。
利用地層的重復(fù)或缺失不僅是判斷斷層的重要手段，而且是判斷斷層兩盤相對 動向的重要方法，借此還可以確定斷層的性質(zhì)——正斷層，還是逆斷層？基本上有六種情況，如圖所示。 ③斷層面（帶）上的構(gòu)造特征。
這是識別斷層的直觀證據(jù)，即在眼前“方寸” 之地內(nèi)所能見到的若干構(gòu)造現(xiàn)象，最常見的有以下幾種：斷層擦痕：就是斷層兩側(cè) 巖塊相互滑動和磨擦?xí)r留下的痕跡，由一系列彼此平行而且較為均勻的細密線條組 成，或為一系列相間排列的擦脊與擦槽構(gòu)成。在堅脆巖石的斷層擦痕的表面，往往 平滑明亮，發(fā)光如鏡。
并常覆以炭質(zhì)、硅質(zhì)、鐵質(zhì)或碳酸鹽質(zhì)的薄膜。有時，也在 斷層的擦面上見到不規(guī)則的階梯狀斷口，其上覆以纖維狀的礦物（如方解石之類） 晶體。
斷層擦痕對于決定兩盤位移方向頗有用處，如用手撫摸時，感到光滑的方向乃 是對盤活動位移的方向?；蜃源侄?，自深而淺的方向乃示對盤活動位移的方向。
或者利用階梯狀斷口，階梯形陡坡之傾向指示對盤相對滑動的動向。 構(gòu)造巖：當(dāng)斷層兩壁相對移動之時，巖石發(fā)生破碎，在強大的壓力下，礦物出 現(xiàn)定向排列，并有重結(jié)晶作用。
也就是說，由于動力作用而發(fā)生變質(zhì)，形成一系列 新的巖石，即稱為構(gòu)造巖。 構(gòu)造巖的種類很多，如構(gòu)造角礫石（角礫形狀不規(guī)則，大小不一）。
碎裂巖 （破碎的程度比前者更高，主要是原巖中的礦物顆粒的破碎，常見于逆斷層或平移 斷層的斷裂帶中）。糜棱巖（破碎極細，用顯微鏡觀察）。
更進一步的破碎即片理 化巖（具有片狀構(gòu)造的構(gòu)造巖）。 此外，還有牽引構(gòu)造：是斷層帶中的一種伴生構(gòu)造，它是由于斷層兩壁發(fā)生位 移時使地層造成弧形的彎曲現(xiàn)象，可以指示斷層的位移方向，如圖所示。
與斷層帶有關(guān)的，還有一種斷層的伴生構(gòu)造，主要是斷層旁側(cè)的節(jié)理及拖曳褶 皺。這些節(jié)理常與斷層斜交，其銳角所指的方向指示本盤滑動的動向。
其他標志，主要是指地貌或水文上的一些特征，不過，此種地質(zhì)現(xiàn)象只能說明 有斷層存在，不易說明其兩盤的運動方向，諸如三角面山，河流的突然改向，山脊 的突然中斷，眾多的溫泉或泉水的定向分布，小型的火成巖體的入侵及其伴生的變 質(zhì)作用、礦化現(xiàn)象及礦脈的定向分布等等均示斷層的存在，特別是從較大的地貌現(xiàn) 象所反映的斷層特征，有時在航空照片甚至衛(wèi)星照片上都能看到。 認識斷層的證據(jù)、判斷斷層的存在以后，就可以進一步將斷層進行分類，這也 是野外觀察斷層時必須解決的問題。
一般最常用的斷層分類法，是根據(jù)兩盤巖塊相對移動的性質(zhì)而定，分為三種： 正斷層、逆斷層和平移斷層。如果斷層面的傾角小于30°，則又稱為逆 掩斷層。
若規(guī)模很大的逆斷層（推移數(shù)千米以至數(shù)十千米者），又。
3.斷層發(fā)生年代先后的確定
1、標準化石2相鄰地層的年齡3同位素法斷層：斷層與節(jié)理同屬斷裂構(gòu)造，而斷層往往是節(jié)理的進一步發(fā)育所致。
或者說，當(dāng)節(jié)理發(fā)生位移，兩壁有所錯動時，即稱為斷層。 斷層是野外常見的一種重要地質(zhì)現(xiàn)象。
地質(zhì)旅行時遇到斷層，應(yīng)如何研究呢？首先要確定斷層的幾何要素，其內(nèi)容包 括下列各點：①斷層面。所謂斷層面，就是兩部分巖塊沿著滑動方向所產(chǎn)生的破裂 面。
斷層面的空間位置也像地層的層面一樣，是由其走向和傾向而確定的。但斷層 面并非一個平整的面，往往是一個曲面，特別是向地下沿伸的那一部分，產(chǎn)狀可以 有較大的變化。
此外，斷層面不是單獨存在的，往往是有好幾個平行地排列著，構(gòu) 成所謂斷層帶，又由于斷層帶上兩壁巖層的位移錯動，使巖石發(fā)生破碎，因此又稱 為斷層破碎帶。其寬度達幾米、甚至幾十米。
一般情況下，斷層的規(guī)模愈大，斷層 帶的寬度也愈大。 ②斷盤。
斷層面兩側(cè)相對移動的巖塊稱為斷盤。由于斷層面兩壁發(fā)生相對移動， 所以斷盤就有上升盤和下降盤之分。
在野外識別時，按其位于斷層面之上者稱上盤 ；位于斷層面之下者稱下盤。當(dāng)斷層面垂直時，就無上盤或下盤之分。
③斷層線。斷層面與地面相交之線，稱斷層線。
④位移。這是斷層面兩側(cè)巖塊相對移動的泛稱。
在野外觀察斷層時，位移的方 向是必須當(dāng)場解決的問題之一。特別遇到開礦時，一旦遇到礦脈（或礦層）中斷， 往往是斷層位移所致，需要立即追查。
追查的辦法是運用兩側(cè)巖層的層序關(guān)系來判 斷或撫摸斷層面上的擦痕等來確定。 在地質(zhì)旅行時，如何注意斷層？怎樣研究斷層？觀察什么內(nèi)容？此類問題必須 熟練掌握，現(xiàn)分述如下：先討論斷層的標志及兩盤相對位移問題。
①構(gòu)造（線）不連續(xù)。各種地質(zhì)體，諸如地層、礦層、礦脈、侵入體與圍巖的 接觸界線等都有一定的形狀和分布方向。
一旦斷層發(fā)生，它們就會突然中斷、錯開， 即造成構(gòu)造（線）的不連續(xù)現(xiàn)象，這是判斷斷層現(xiàn)象的直接標志。 ②地層的重復(fù)或缺失。
這是很重要的斷層證據(jù)。雖然褶皺構(gòu)造也有地層的重復(fù) 現(xiàn)象，但它是對稱性的重復(fù)；而斷層的地層重復(fù)卻是單向性的。
至于地層的缺失， 凡沉積間斷或不整合構(gòu)造也可造成，但這兩類地層缺失都是區(qū)域性的，而斷層造成 的地層缺失則是局部性的。關(guān)鍵的問題，旅行者應(yīng)對區(qū)域內(nèi)的地層系統(tǒng)及其分布情 況有一個較為全面的了解（可以在旅行準備時查閱地層表、剖面、地層柱狀圖之類）。
利用地層的重復(fù)或缺失不僅是判斷斷層的重要手段，而且是判斷斷層兩盤相對 動向的重要方法，借此還可以確定斷層的性質(zhì)——正斷層，還是逆斷層？基本上有六種情況，如圖所示。 ③斷層面（帶）上的構(gòu)造特征。
這是識別斷層的直觀證據(jù)，即在眼前“方寸” 之地內(nèi)所能見到的若干構(gòu)造現(xiàn)象，最常見的有以下幾種：斷層擦痕：就是斷層兩側(cè) 巖塊相互滑動和磨擦?xí)r留下的痕跡，由一系列彼此平行而且較為均勻的細密線條組 成，或為一系列相間排列的擦脊與擦槽構(gòu)成。在堅脆巖石的斷層擦痕的表面，往往 平滑明亮，發(fā)光如鏡。
并常覆以炭質(zhì)、硅質(zhì)、鐵質(zhì)或碳酸鹽質(zhì)的薄膜。有時，也在 斷層的擦面上見到不規(guī)則的階梯狀斷口，其上覆以纖維狀的礦物（如方解石之類） 晶體。
斷層擦痕對于決定兩盤位移方向頗有用處，如用手撫摸時，感到光滑的方向乃 是對盤活動位移的方向。或自粗而細，自深而淺的方向乃示對盤活動位移的方向。
或者利用階梯狀斷口，階梯形陡坡之傾向指示對盤相對滑動的動向。 構(gòu)造巖：當(dāng)斷層兩壁相對移動之時，巖石發(fā)生破碎，在強大的壓力下，礦物出 現(xiàn)定向排列，并有重結(jié)晶作用。
也就是說，由于動力作用而發(fā)生變質(zhì)，形成一系列 新的巖石，即稱為構(gòu)造巖。 構(gòu)造巖的種類很多，如構(gòu)造角礫石（角礫形狀不規(guī)則，大小不一）。
碎裂巖 （破碎的程度比前者更高，主要是原巖中的礦物顆粒的破碎，常見于逆斷層或平移 斷層的斷裂帶中）。糜棱巖（破碎極細，用顯微鏡觀察）。
更進一步的破碎即片理 化巖（具有片狀構(gòu)造的構(gòu)造巖）。 此外，還有牽引構(gòu)造：是斷層帶中的一種伴生構(gòu)造，它是由于斷層兩壁發(fā)生位 移時使地層造成弧形的彎曲現(xiàn)象，可以指示斷層的位移方向，如圖所示。
與斷層帶有關(guān)的，還有一種斷層的伴生構(gòu)造，主要是斷層旁側(cè)的節(jié)理及拖曳褶 皺。這些節(jié)理常與斷層斜交，其銳角所指的方向指示本盤滑動的動向。
其他標志，主要是指地貌或水文上的一些特征，不過，此種地質(zhì)現(xiàn)象只能說明 有斷層存在，不易說明其兩盤的運動方向，諸如三角面山，河流的突然改向，山脊 的突然中斷，眾多的溫泉或泉水的定向分布，小型的火成巖體的入侵及其伴生的變 質(zhì)作用、礦化現(xiàn)象及礦脈的定向分布等等均示斷層的存在，特別是從較大的地貌現(xiàn) 象所反映的斷層特征，有時在航空照片甚至衛(wèi)星照片上都能看到。 認識斷層的證據(jù)、判斷斷層的存在以后，就可以進一步將斷層進行分類，這也 是野外觀察斷層時必須解決的問題。
一般最常用的斷層分類法，是根據(jù)兩盤巖塊相對移動的性質(zhì)而定，分為三種： 正斷層、逆斷層和平移斷層。如果斷層面的傾角小于30°，則又稱為逆 掩斷層。
若規(guī)模很大的逆斷層（推移數(shù)千米以至數(shù)十千米者），又。
4.斷層的形成時代
利用斷層和褶皺或者其它地質(zhì)構(gòu)造的組合關(guān)系確定斷層形成時期。在同一構(gòu)造應(yīng)力場控制的構(gòu)造活動期間所形成的褶皺、斷裂之間存在有規(guī)律的幾何關(guān)系和成因聯(lián)系。確定了這些構(gòu)造作用時期也可以推斷斷層的形成時間。
