測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)方法(什么是測(cè)量.測(cè)量的主要有幾個(gè)測(cè)量方法)
1.什么是測(cè)量.測(cè)量的主要有幾個(gè)測(cè)量方法
測(cè)量這個(gè)概念太廣了。僅測(cè)繪學(xué)就分，大地測(cè)量，海洋測(cè)繪，工程測(cè)量，房產(chǎn)測(cè)量，等等。測(cè)繪學(xué)里還包含了攝影測(cè)量，遙感，還有地圖制圖。
根據(jù)不同的用途和目的，測(cè)繪的方法也不一定相同，要求也不一樣。
要量測(cè)某量的大小，就需要相應(yīng)的度量單位，通常測(cè)量里用到的有長(zhǎng)度，角度，面積。亦也有溫度，重量，時(shí)間等等。
測(cè)量應(yīng)用的領(lǐng)域太廣泛，測(cè)量方法實(shí)在很多，總的來(lái)說(shuō)，測(cè)量方法依據(jù)相關(guān)規(guī)范，得出的結(jié)果經(jīng)過(guò)統(tǒng)一認(rèn)識(shí)，認(rèn)可就行。
舉幾個(gè)常用測(cè)量方法，距離測(cè)量，角度測(cè)量，視距測(cè)量，，，水準(zhǔn)測(cè)量。
2.測(cè)量按測(cè)量方式分類(lèi)和按測(cè)量方法分類(lèi)分別可分為哪些
按測(cè)量方式可分：
1、直接測(cè)量：無(wú)需對(duì)被測(cè)量與其他實(shí)測(cè)量進(jìn)行一定函數(shù)關(guān)系的輔助計(jì)算而直接得到被測(cè)量值得測(cè)量。
2、間接測(cè)量：通過(guò)直接測(cè)量與被測(cè)參數(shù)有已知函數(shù)關(guān)系的其他量而得到該被測(cè)參數(shù)量值的測(cè)量。
3、接觸測(cè)量：儀器的測(cè)量頭與工件的被測(cè)表面直接接觸，并有機(jī)械作用的測(cè)力存在（如接觸式三坐標(biāo)等）。
4、非接觸測(cè)量：儀器的測(cè)量頭與工件的被測(cè)表面之間沒(méi)有機(jī)械的測(cè)力存在（如光學(xué)投影儀、氣動(dòng)量?jī)x測(cè)量和影像測(cè)量?jī)x等）。
5、組合測(cè)量：如果被測(cè)量有多個(gè)，雖然被測(cè)量（未知量）與某種中間量存在一定函數(shù)關(guān)系，但由于函數(shù)式有多個(gè)未知量，對(duì)中間量的一次測(cè)量是不可能求得被測(cè)量的值。這時(shí)可以通過(guò)改變測(cè)量條件來(lái)獲得某些可測(cè)量的不同組合，然后測(cè)出這些組合的數(shù)值，解聯(lián)立方程求出未知的被測(cè)量。
6、比較測(cè)量：比較法是指被測(cè)量與已知的同類(lèi)度量器在比較器上進(jìn)行比較，從而求得被測(cè)量的一種方法。這種方法用于高準(zhǔn)確度的測(cè)量。
按測(cè)量方法可分：
1、直接測(cè)量法：不必測(cè)量與被測(cè)量有函數(shù)關(guān)系的其他量，而能直接得到被測(cè)量值的測(cè)量方法。
2、間接測(cè)量法：通過(guò)測(cè)量與被測(cè)量有函數(shù)關(guān)系的其他量來(lái)得到被測(cè)量值的測(cè)量方法。
3、定義測(cè)量法：根據(jù)量的定義來(lái)確定該量的測(cè)量方法。
4、靜態(tài)測(cè)量方法：確定可以認(rèn)為不隨時(shí)間變化的量值的測(cè)量方法。
5、動(dòng)態(tài)測(cè)量方法：確定隨時(shí)間變化量值的瞬間量值的測(cè)定方法。
6、直接比較測(cè)量法：將被測(cè)量直接與已知其值的同種量相比較的測(cè)量方法。
7、微差測(cè)量法：將被測(cè)量與只有微小差別的已知同等量相比較，通過(guò)測(cè)量這兩個(gè)量值間的差值來(lái)確定被測(cè)量值的測(cè)量方法。
擴(kuò)展資料：
系統(tǒng)誤差產(chǎn)生的原因：
1、傳感器、儀表不準(zhǔn)確（刻度不準(zhǔn)、放大關(guān)系不準(zhǔn)確）
2、測(cè)量方法不完善（如儀表內(nèi)阻未考慮）
3、安裝不當(dāng)
4、環(huán)境不合
5、操作不當(dāng)
系統(tǒng)誤差的判別：
1、實(shí)驗(yàn)對(duì)比法，例如一臺(tái)測(cè)量?jī)x表本身存在固定的系統(tǒng)誤差，即使進(jìn)行多次測(cè)量也不能發(fā)現(xiàn)，只有用更高一級(jí)精度的測(cè)量?jī)x表測(cè)量時(shí)，才能發(fā)現(xiàn)這臺(tái)測(cè)量?jī)x表的系統(tǒng)誤差；
2、殘余誤差觀察法（繪出先后次序排列的殘差）；
3、準(zhǔn)則檢驗(yàn)法
馬利科夫判據(jù)是將殘余誤差前后各半分兩組， 若“Σvi前”與“Σvi后”之差明顯不為零， 則可能含有線性系統(tǒng)誤差。
阿貝檢驗(yàn)法則檢查殘余誤差是否偏離正態(tài)分布， 若偏離， 則可能存在變化的系統(tǒng)誤差。將測(cè)量值的殘余誤差按測(cè)量順序排列，且設(shè)A=v12+v22+…+vn2, B=(v1-v2)2+(v2-v3)2？+…+（vn-1-vn）2+(vn-v1)2。
若|B/2A-1|>1/n^1/2，則可能含有變化的系統(tǒng)誤差。
系統(tǒng)誤差的消除：
1、在測(cè)量結(jié)果中進(jìn)行修正 已知系統(tǒng)誤差， 變值系統(tǒng)誤差， 未知系統(tǒng)誤差
2、消除系統(tǒng)誤差的根源
3、在測(cè)量系統(tǒng)中采用補(bǔ)償措施
4、實(shí)時(shí)反饋修正
參考資料來(lái)源：百度百科-測(cè)量方法
3.測(cè)量方法的分類(lèi)
1.直接測(cè)量和間接測(cè)量
按實(shí)測(cè)幾何量是否為欲測(cè)幾何量，可分為直接測(cè)量和間接測(cè)量。
1）直接測(cè)量
直接測(cè)量是指直接從計(jì)量器具獲得被測(cè)量的量值的測(cè)量方法。如用游標(biāo)卡尺、千分尺。
(2)間接測(cè)量
間接測(cè)量是測(cè)得與被測(cè)量有一定函數(shù)關(guān)系的量，然后通過(guò)函數(shù)關(guān)系求得被測(cè)量值。如測(cè)量大尺寸圓柱形零件直徑D時(shí)，先測(cè)出其周長(zhǎng)L，然后再按公式D/求得零件的直徑D，如圖2-4所示。
2.絕對(duì)測(cè)量和相對(duì)測(cè)量
按示值是否為被測(cè)量的量值，可分為絕對(duì)測(cè)量和相對(duì)測(cè)量。
(1)絕對(duì)測(cè)量絕對(duì)測(cè)量是指被計(jì)量器具顯示或指示的示值即是被測(cè)幾何量的量值。如用測(cè)長(zhǎng)儀測(cè)量零件，其尺寸由刻度尺直接讀出。
(2)相對(duì)測(cè)量相對(duì)測(cè)量也稱(chēng)比較測(cè)量，是指計(jì)量器具顯示或指示岀被測(cè)幾何量相對(duì)于已知標(biāo)準(zhǔn)量的偏差，測(cè)量結(jié)果為已知標(biāo)準(zhǔn)量與該偏差值的代數(shù)和。
一般來(lái)說(shuō)，相對(duì)測(cè)量的測(cè)量精度比絕對(duì)測(cè)量的要高。
3.接觸測(cè)量和非接觸測(cè)量
按測(cè)量時(shí)被測(cè)表面與計(jì)量器具的測(cè)頭是否接觸，可分為接觸測(cè)量和非接觸測(cè)量
(1)接觸測(cè)量接觸測(cè)量是指計(jì)量器具在測(cè)量時(shí)，其測(cè)頭與被測(cè)表面直接接觸的測(cè)量。如用卡尺、千分尺測(cè)量公交。
(2)非接觸測(cè)量非接觸測(cè)量是指計(jì)量器具在測(cè)量是，其測(cè)頭與被測(cè)表面不接觸的測(cè)量。如用氣動(dòng)量?jī)x測(cè)量孔徑和用顯微鏡測(cè)量工件的表面粗糙度。
擴(kuò)展資料：
從這個(gè)定義，我們就可以看出經(jīng)典物理的基本假設(shè)：
1.時(shí)間是絕對(duì)的，其含義是時(shí)間流逝的速率與空間位置和物體的速率無(wú)關(guān)；
2.空間是歐幾里德的，也就是說(shuō)歐幾里德幾何的假設(shè)和定律對(duì)空間是成立的；
3.經(jīng)典物理的第三個(gè)假設(shè)，就是質(zhì)點(diǎn)的運(yùn)動(dòng)可以用位置作為時(shí)間的函數(shù)來(lái)描述。
根據(jù)愛(ài)因斯坦的相對(duì)論，時(shí)間是相對(duì)的，空間也不是歐幾里德的，但是絕對(duì)時(shí)間和歐幾里德空間對(duì)低速運(yùn)動(dòng)（相對(duì)于光速）和宏觀世界是一個(gè)很好的近似，在相當(dāng)高的精度上是正確的。因此在經(jīng)典物理中使用這樣的假設(shè)是合理的。
根據(jù)第三個(gè)假設(shè)，如果我們知道質(zhì)點(diǎn)的位置作為時(shí)間的函數(shù)，而且我們知道了質(zhì)點(diǎn)的質(zhì)量，那么我們就知道了所能知道的關(guān)于這個(gè)質(zhì)點(diǎn)的一切知識(shí)，由此可見(jiàn)，經(jīng)典物理的任務(wù)就是找出質(zhì)點(diǎn)的位置隨時(shí)間變化的函數(shù)。
參考資料：搜狗百科——測(cè)量方法
4.直徑測(cè)量的方法有幾種,分別是哪幾種
(l)用兩個(gè)方木塊和刻度尺配合進(jìn)行，如圖12.-4a所示。但應(yīng)注意，測(cè)量前應(yīng)檢查兩個(gè)方木塊是否能合嚴(yán)（即兩個(gè)與圓柱接觸的平面必須平行）
(2)用刻度尺直接在圓柱端面上測(cè)量。但測(cè)量時(shí)應(yīng)注意直徑是最長(zhǎng)的弦。
(3)用卡鉗和刻度尺進(jìn)行測(cè)量，如圖1.2-4b。
(4)取直徑小又可彎曲的圓柱（如鐵絲），把它繞在桿上，用刻度尺測(cè)出若干直徑之和，如圖1.2-5。
(5)用游標(biāo)卡尺、螺旋測(cè)微器等工具直接測(cè)量。其方法將在高中學(xué)生實(shí)驗(yàn)部分介紹。
